xxx 无向图的平面性检测(Left-Right Planarity Test)
字数 1786 2025-12-07 00:27:55

xxx 无向图的平面性检测(Left-Right Planarity Test)

题目描述
给定一个无向图 G=(V, E),判断它是否是平面图。平面图是指可以画在平面上,并且任意两条边都只在顶点处相交的图。本题目要求理解并实现一个经典的平面性检测算法——Left-Right Planarity Test(左右平面性测试),该算法基于深度优先搜索(DFS)生成树和回溯路径(lowpoint)的概念,并利用“左右约束”来高效判断平面性。

**解题过程****

1. 基本概念与背景
平面图判定是图论中的一个经典问题。一个图是平面图当且仅当它不包含K5(5个顶点的完全图)或K3,3(完全二分图,两边各有3个顶点)的细分(subdivision)作为子图(Kuratowski定理)。但直接检测这些子图是困难的。Left-Right Planarity Test 是一种基于DFS的线性时间算法(O(|V|)),由Shih和Hsu在1990年代提出,它结合了DFS树、回溯边(back edge)的方向性以及“左右”约束条件。

2. 算法核心思想
算法的主要步骤:

  • 对图进行深度优先搜索(DFS),生成一棵DFS树。在DFS过程中,为每条边分配一个方向:树边(tree edge)和回溯边(back edge,即连接当前顶点与DFS树中祖先的边)。
  • 回溯边会形成“环”结构。平面图要求这些环在嵌入时不能交叉。算法的核心是检查这些环能否被“左右”分配到两个不同的面(face)中而不冲突。

3. 详细步骤

步骤1:执行DFS,计算每个顶点的DFS编号和低点(lowpoint)

  • 从任意顶点开始DFS,为每个顶点v记录其DFS编号dfn[v](即访问顺序)。
  • 同时计算每个顶点v的“低点”low[v]:在DFS树中,从v出发通过0条或更多条树边,然后通过至多一条回溯边能达到的最小DFS编号。这帮助识别环结构。

步骤2:构建“约束图”

  • 在DFS树中,每条回溯边(u, v)(假设dfn[u] > dfn[v],即u是后代,v是祖先)会与DFS路径上从v到u的树边形成一个环。
  • 考虑两条回溯边e1和e2。它们可能“冲突”,即如果它们的环在嵌入时必须交叉,则图是非平面的。算法通过构建一个二分约束图来建模这些冲突:每个约束图顶点对应一条回溯边,如果两条回溯边冲突,则在它们之间连一条边,表示它们必须被分配到不同的“左右”面。

步骤3:左右分配与检查

  • 约束图是一个二分图检测问题:如果约束图是二分图,则可以将回溯边分配到“左”或“右”面,从而图是平面图;否则为非平面图。
  • 具体地,算法在DFS过程中动态维护一个“左右”数据结构,对于每条回溯边,记录它必须相对于其他回溯边位于左侧还是右侧。这可以通过并查集(union-find)或类似结构高效实现,以合并约束条件。

步骤4:递归处理双连通分量

  • 平面性检测可以简化为对每个双连通分量(biconnected component)独立检测。因为图是平面图当且仅当所有双连通分量都是平面图。
  • 在DFS过程中,当遇到割点(articulation point)时,递归检测每个双连通分量的平面性。如果所有分量都是平面图,则原图是平面图。

5. 算法复杂度

  • 算法在O(|V| + |E|)时间内运行,即线性时间。这是因为DFS是线性的,约束图的大小是O(|E|),而二分图检测(通过BFS/DFS)也是线性的。

6. 示例演示
考虑一个小图:顶点集{1,2,3,4},边集{(1,2), (2,3), (3,4), (4,1), (1,3)}(即一个四边形加一条对角线)。

  • DFS从顶点1开始,生成树边:1-2, 2-3, 3-4。回溯边:4-1和3-1。
  • 回溯边(4,1)形成环1-2-3-4-1,(3,1)形成环1-2-3-1。这两个环在平面嵌入中必须交叉(因为边(1,3)会穿过四边形内部),因此约束图指示冲突,检测为非二分图,所以原图是非平面的(实际上它包含K3,3的细分)。

总结
Left-Right Planarity Test 是一个高效的平面性检测算法,它避免了显式寻找Kuratowski子图,而是通过DFS和约束图二分性来判定。掌握这个算法需要理解DFS树、低点、回溯边和平面嵌入的基本性质。

xxx 无向图的平面性检测(Left-Right Planarity Test) 题目描述 给定一个无向图 G=(V, E),判断它是否是平面图。平面图是指可以画在平面上,并且任意两条边都只在顶点处相交的图。本题目要求理解并实现一个经典的平面性检测算法——Left-Right Planarity Test(左右平面性测试),该算法基于深度优先搜索(DFS)生成树和回溯路径(lowpoint)的概念,并利用“左右约束”来高效判断平面性。 ** 解题过程**** 1. 基本概念与背景 平面图判定是图论中的一个经典问题。一个图是平面图当且仅当它不包含K5(5个顶点的完全图)或K3,3(完全二分图,两边各有3个顶点)的细分(subdivision)作为子图(Kuratowski定理)。但直接检测这些子图是困难的。Left-Right Planarity Test 是一种基于DFS的线性时间算法(O(|V|)),由Shih和Hsu在1990年代提出,它结合了DFS树、回溯边(back edge)的方向性以及“左右”约束条件。 2. 算法核心思想 算法的主要步骤: 对图进行深度优先搜索(DFS),生成一棵DFS树。在DFS过程中,为每条边分配一个方向:树边(tree edge)和回溯边(back edge,即连接当前顶点与DFS树中祖先的边)。 回溯边会形成“环”结构。平面图要求这些环在嵌入时不能交叉。算法的核心是检查这些环能否被“左右”分配到两个不同的面(face)中而不冲突。 3. 详细步骤 步骤1:执行DFS,计算每个顶点的DFS编号和低点(lowpoint) 从任意顶点开始DFS,为每个顶点v记录其DFS编号dfn[ v ](即访问顺序)。 同时计算每个顶点v的“低点”low[ v ]:在DFS树中,从v出发通过0条或更多条树边,然后通过至多一条回溯边能达到的最小DFS编号。这帮助识别环结构。 步骤2:构建“约束图” 在DFS树中,每条回溯边(u, v)(假设dfn[ u] > dfn[ v ],即u是后代,v是祖先)会与DFS路径上从v到u的树边形成一个环。 考虑两条回溯边e1和e2。它们可能“冲突”,即如果它们的环在嵌入时必须交叉,则图是非平面的。算法通过构建一个二分约束图来建模这些冲突:每个约束图顶点对应一条回溯边,如果两条回溯边冲突,则在它们之间连一条边,表示它们必须被分配到不同的“左右”面。 步骤3:左右分配与检查 约束图是一个二分图检测问题:如果约束图是二分图,则可以将回溯边分配到“左”或“右”面,从而图是平面图;否则为非平面图。 具体地,算法在DFS过程中动态维护一个“左右”数据结构,对于每条回溯边,记录它必须相对于其他回溯边位于左侧还是右侧。这可以通过并查集(union-find)或类似结构高效实现,以合并约束条件。 步骤4:递归处理双连通分量 平面性检测可以简化为对每个双连通分量(biconnected component)独立检测。因为图是平面图当且仅当所有双连通分量都是平面图。 在DFS过程中,当遇到割点(articulation point)时,递归检测每个双连通分量的平面性。如果所有分量都是平面图,则原图是平面图。 5. 算法复杂度 算法在O(|V| + |E|)时间内运行,即线性时间。这是因为DFS是线性的,约束图的大小是O(|E|),而二分图检测(通过BFS/DFS)也是线性的。 6. 示例演示 考虑一个小图:顶点集{1,2,3,4},边集{(1,2), (2,3), (3,4), (4,1), (1,3)}(即一个四边形加一条对角线)。 DFS从顶点1开始,生成树边:1-2, 2-3, 3-4。回溯边:4-1和3-1。 回溯边(4,1)形成环1-2-3-4-1,(3,1)形成环1-2-3-1。这两个环在平面嵌入中必须交叉(因为边(1,3)会穿过四边形内部),因此约束图指示冲突,检测为非二分图,所以原图是非平面的(实际上它包含K3,3的细分)。 总结 Left-Right Planarity Test 是一个高效的平面性检测算法,它避免了显式寻找Kuratowski子图,而是通过DFS和约束图二分性来判定。掌握这个算法需要理解DFS树、低点、回溯边和平面嵌入的基本性质。